项目或成果
简介

当一束激励X射线照射到样品上，镀层和基底中的元素都放射出特征荧光X射线(XRF)。镀层荧光X射线的强度随镀层厚度而增加；基底荧光X射线的强度随镀层厚度而降低。根据这类关系，测定荧光X射线的强度,便可以计算出镀层的厚度。普通XRF仪器的照射区域比较大,不适用于精微细小、形状复杂的样品。微区XRF仪器将微束X射线集中照射在很小的区域内(专利ZL 94 1 12117.8),采用激光定位技术(专利ZL 97 2 35392.5),能方便地选择样品上任意部位进行精确测量。

负责人

朱节清

联系电话

59554657

Email

zhujieqing@sinap.ac.cn

项目或成果
应用前景

XRF微区镀层测厚仪的国内市场需求量每年约300台,（以每台２０万计算，每年需求额约６０００万元），绝大部分来自三家外国公司(美国CMI公司，德国Fischer公司和日本精工舍公司)。中国科学院上海应用物理研究所凝聚其30多年从事X射线荧光(XRF)技术研究的经验，结合其近年来在微区分析领域取得的成果，于１９９４年研制成功XRF系列微区镀层测厚仪，受到用户好评。这项研究成果的目标是在镀层质量检验中，用我国高新科学技术，取代昂贵的进口仪器。该项产品已通过国家技术监督局鉴定，性能指标达到进口仪器的水平，它的价格只有进口仪器的几分之一，是一种比较先进而实用的质量检验仪器，适合于电子元件，精密机械，钟表眼镜，制笔工艺，珠宝首饰及其它电镀行业推广使用。

技术（成果）成熟度

目前，我们已经开发出XRF300,XRF500和XRF900三种适合不同大小被测件的仪器，它们能够测量的品种和精度都达到进口仪器的水平。由于测量自动化程度、仪器结构包装和市场营销等因素不如进口仪器，现在的年销量约２５台，少于国内市场的１０％。

拟合作方式

我们愿意联合相关的仪器制造公司共同开展研究，提升仪器的测量自动化程度，改善仪器制造工艺，改进仪器外观包装，加强市场营销力量，大力开拓国内市场，在条件成熟时将产品推销到国外市场。